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GB_T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed自由跌落(回收站2024-12-11 16:10)
2024-12-11
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GB_T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分-試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb-寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-中再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—低再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分-試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda-寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-高再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga：和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
2024-12-11
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GB_T 2423.16-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉
2024-12-11
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GB_T 2423.18-2021 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
2024-12-11
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GB_T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧
2024-12-11
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GB_T 2423.10-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)
2024-12-11
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GB_T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—一般要求
2024-12-11
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